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安科瑞AF-HK100环保数采仪，是新一代环境监测、污染源数采仪，符合新一代国标通信标准，支持《污染物在线自动(监测)系统数据传输标准》(HJ 212-2017、HJ/T 212-2005)；产品按照工业级标准设计，针对环境监测的各种要求做了的优化，并配备丰富的通信接口，支持局域网、GPRS、CDMA、4G等，满足不同现场环境下对远程通信的要求。AF-HK100环保数采仪充分利用人工智能物联网、大数据云计算等新一代信息技术，建立动态的模型，实时污染源在线监测系统状态，实现智能感知、智能预警、智能处理、智能运维，降低企业运维成本，大幅提高企业运维和效率。

纸护角组委环保的包装用品，由于其低成本，易回收等特点，实用性好等特点受到人们的青睐，近年 来，纸护角更因符合绿色、环保概念，促使纸制品包装居包装材料使用。然而，在纸包装不断发展的过程中，人们也发现了纸包装的缺点，如纸箱包装承重性差、易变形等等。面对发展中遇到的这些问题，纸护角在纸包装中逐渐崭露头角，尤其是在蜂窝纸箱包装、瓦楞纸箱包装中。在整个发展的过程中，纸护角也开始改 变它之前的形状，出现了环绕型纸护角、折弯纸护角、U型纸护角等。

产销的不平衡是纸护角厂家市场多年无序发展而长期积累下的问题，因此，这一问题的解决也并非一朝一夕，只有实现了产业的变革，开发出更新、更高技术含量的产品，引发市场合理的多样化、差异化竞争，才能根本上解决产能过剩的问题，这需要纸护角厂家企业共同而又持续不断的努力。纸护角厂家环保转型“箭在弦上”产能过剩是产业常态。产能过剩是产业充分竞争的一个必然结果。化解产能过剩必然涉及产业结构调整、企业优胜劣汰，短期内可能会迎来震荡，但这绝非是一个在短期内可以完成的任务。

纸箱厂家生产纸护角， 护角，护角条，纸箱等打包产品，但是，目前的国家对包装材料非常重视，，国家对蜂窝纸箱的发展十分重视。国家经贸委资源司综合利用与环保处编制的《中国绿色包装工业发展对策与规划研究》(草案)中已明确把蜂窝纸板包装箱列入推广计划，并指出："这种新型的蜂窝纸板箱将成为我国出口商品的理想包装，它的推广应用将为我国降低商品在流通过程中的破损率，提高包装产品质量起到积极的作用"。蜂窝纸箱因其价格低、质量轻、强度高，已用来部分取代木质包装箱。

XRF分析仪是检测ROHS卤素镀层厚度含量的仪器，采用新型的半导体SDD探测器，的提高计数率，缩减了测试时间。作为国内的XRF分析仪器制造厂商，天瑞仪器秉承精益求精的研发理念，利用现代半导体技术和计算机技术发展起来的新一代XRF测试仪EDX0B，能够的解决ROHS环保指令涉及的有害物质的快速测定。分析检出限可达1ppm；分析含量一般为1ppm到99.99％；任意多个可选择的分析和识别模型；相互的基体效应校正模型；多变量非线性回归程序；温度适应范围为15℃至30℃；电源：交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源；能量分辨率：160±5eV；外观尺寸： 550×416×333mm；样品腔尺寸：460×298×98mm；重量：45Kg。仪器标准配置包括：样品平台；电制冷Si-PIN探测器；检测电子电路；高低压电源；大功率X光管；计算机及喷墨打印机。

RoHS检测分析（五金工具、塑料颗粒、涂料、塑胶模具、皮革布料、电线电缆、保温杯等）
地矿与合金（铜、不锈钢等）成分分析
金属镀层（镀锡、镀锌、镀镍、镀铜、镀银、镀铑、镀钯等）的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测
主要用于RoHS指令相关行业、贵金属加工和首饰加工行业；银
行，首饰销售和检测机构；电镀行业

技术特点：
下照式：可满足各种形状样品的测试需求
准直器和滤光片：多种准直器和滤光片的电动切换，满足各种测试方式的应用平台：精细的手动平台，方便定位测试点高分辨率探测器：提高分析的准确性新一代的高压电源和X光管：性能稳定可靠，高达100W的功率实现更高的测试效率

环保测试仪产品介绍
随着欧盟ROHS环保指令的深入影响和环保发展趋势越来越严格，X射线荧光环保测试仪在电子电器行业得到广泛使用。天瑞仪器是生产环保测试仪的厂商，公司的EDX0B是利用新一代X光管和高分辨率探测器，提供激发效率和测试精度。

环保测试仪技术指标：
分析检出限可达1ppm
分析含量一般为1ppm到99.99％
任意多个可选择的分析和识别模型
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
温度适应范围为15℃至30℃
电源：交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率：160±5eV
外观尺寸： 550×416×333mm
样品腔尺寸：460×298×98mm
重量：45Kg

环保测试仪的工作原理
利用X射线荧光光谱仪，使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线，根据Bragg定律，通过测定角度，即可获得待测元素的谱线波长：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ为分析谱线波长；d为晶体的晶格间距；θ为衍射角；n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角，利用上式可以计算相应被分析元素的波长，从而获得待测元素的特息。
能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器，通过测定由探测器收集到的电荷量，直接获得被测元素发出的特征射线能量：
Q=kE
式中，K为入射射线的光子能量；Q为探测器产生的相应电荷量；k为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比，故通过测定电荷量可得到待测元素的特息。
待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。
为获得样品的定性和定量信息，除光谱仪外，还采用一定的样品制备技术，并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。